產品簡介

半導體共面性測量設備結構美觀大方，操作簡便，結合本公司自主研發的測量軟件，可實現準確的元器件共面性、工件外形尺寸等測量，性價比高、拓展性強、功能全面、可滿足各種常規測量需求。

產品簡介：

共面性指表面組裝元器件引腳垂直高度偏差，即引腳的高腳底所成水平面與引腳的腳底形成的水平面之間的垂直距離。PZ-332C半導體共面性測量設備龍門結構美觀大方，操作簡便，結合本公司自主研發的測量軟件，可實現準確的元器件共面性、工件外形尺寸等測量，性價比高、拓展性強、功能全面、可滿足各種常規測量需求。

產品特點：

• 具有快速對焦、自動尋邊、強大的編程和自動測量功能

• 采用亞像素細分技術，提高圖像邊界分辨能力

• 操縱桿/鼠標操作，方便易用

• 程控恒流驅動式八區表面冷光源，可適應復雜的工件測量

• 激光指示器指示測量位置，方便快速定位

• 在線SPC數據處理分析，大批量治具測量功能

• 三軸伺服控制，定位精度高速度快，XY速度可達300mm/s，運行平穩

• 自主開發的嵌入式模塊控制系統，將復雜的控制系統集成在儀器內部，穩定性更高

• 采用花崗石底座，性能穩定，不易變形

 產品規格：

產品原理：

半導體共面性測量設備通過線激光對芯片有焊錫球及引腳的表面進行掃描，采集出三維點云數據，并由軟件處理生成工件的3D圖形，通過軟件算法提取3D圖中每個焊錫球或引腳的最高點，再用所有最高點生成一個平面，并計算出平面度值即為焊錫球或者引腳共面性。